Minus K 사의 Nano K Vibration Isolation System 의 타사 대비 장점은 다음과 같습니다. - 고압 공기(High Pressure Air)나 전원이 필요 없습니다. - 수평 수직 방향으로 0.5 Hz 를 보증합니다.Air Vibration Isolation Table 보다 10 배의 뛰어난 성능을 보여줍니다. - 고가의 Active Vibration Isolation System 성능에 뒤지지 않습니다. Spring 과 Flexure 만을 사용한 Passive Type 입니다 Active Vibration Isolation in six degrees of freedom No natural low frequency resonance - excellent vibration iso..

Stylus Surface Profiler(표면 단차 측정기) Ambios사 Profiler 수리 Model : XP-1. XP-2, XP-100, XP-200, XP-300 Kla-Tencor : D-Series(D-100, D120,,,,,,,) AEP Technology사 Profiler 수리 Model : NanoMap-LS, NanoMap-500LS, NanoMap-D,,, NanoMap-PS Kosaka사 Profiler 수리 Model : ET-200, ET-3000, ET-4000Series,,, HTSK(031-273-2438)

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상기 YPI 이물 검사장치는 Wafer 뿐만 아니라 Glass(LCD,PDP.OLED,GaAs,Sapphire,,) 등의 투명한 기판(사각형도 적용 가능) 등에도 적용이 가능하며, 표면의 이물을 최소 70nm Size 부터 Size를 구분하여 측정이 가능한 설비입니다.또한 사용자 분들의 입장에서 만들어진 것으로서 Data 저장 기능과 높은 정확도, 재현성을 갖추고도 매우 저렴한 가격에 공급해 드리고 있는 제품입니다.Applications : Wafer 이물 검사(Silicon, GaAs, Sapphire, Glass etc,,,) Glass 이물 검사(LCD, PDP, OLED etc,,,) 측히 SiC, GaN, LT 전용 Inspection장비도 있습니다. Ceramic Substrate,,, ・To..

NanoWorld 社는 스위스에 본사를 두고 있는 세계 최고의 SPM(Scaning Probe Microscopy) Application용의 Silicon Sensor(Probe/Tip) 을 제작하는 AFM Probe 응용 분야에서는 세계적인 Marketshare를 가지고 있는 회사로, 대부분의 Well-known AFM 장비의 Probe에는 호환 이 전혀 문제가 없으며 그외 Special한 경우에는 User의 요구 사항에 따라 주문 제작도 가능 하며, 특히 다양한 종류의 Sensor(Probe/Tip)을 보유 하고 있을 뿐만아니라 Alignment Chip 과 Calibration Standards 등을 보유, 다양한 User의 요구에 부흥하기 위해 최선의 노력과 연구를 하는 회사입니다. 1) Poin..

Scanning Near Field Optical Microscope Integrated Double Optical Vision System for accurate positioning and far field optical investigation Separate or simultaneous transmission and reflection measurements Large Operation wavelength range Allows the light source set-up as top down or inverted Independent high-performance photo detectors for multiple optical signals collection. Easily expandable ..

HTSK(High Tech Solutions Korea)는 국내 반도체, FPD, Nano, Bio, MEMS 및 신재생 에너지 분야인 태양전지, LED, OLED 분야의 측정및 분석장비 전문컨설팅 및 서비스 전문 회사입니다. 특히 반도체 분야의 박박 두께 측정 장비 및 표면 분석 장비를 공급하고 있으며, 신재생 에너지 분야인 태양전지 및 LED, OLED 전 공정 분야의 박막 두께 및 표면 형상 분석.이물 검사(Defect Inspection) 분야의 측정 장비의 공급 및 기술서비스을 제공하고 있습니다. 또한 그동안 반도체와 FPD 분야에서 축적한 기술력으로 측정 분석장비 및 중고 반도체 측정 장비의 컨설팅을 해 드리고 있으며, 미국 Pennsylvania 주에 현지 지사를 운영하고 있습니다. 고객과의..

측정범위(Z축) 600㎛ (0.6mm) 분해능 0.1nm(1Å) 측정력(Stylus) 1mgf ~ 50mgf (10μN~500μN) 스타일러스 팁 반경 2㎛, diamond,60deg Mag. : 2.5X, 5X ,10X, 20X, 50X, 100X Numerical Aperture(NA) : 0.075, 0.13, 0.3, 0.4, 0.55, 0.7 Working Distance(mm) : 10.3, 9.3, 7.4, 4.7, 3.4, 2.0 FOV(um) : 6910x5180,3460x2590,1730x1300,860x650,350x260,170x130 Optical Resolution(L&S 460nm) (um) : 1.87, 1.08, 0.47, 0.35, 0.26, 0.20 Vertical Re..