상기 YPI 이물 검사장치는 Wafer 뿐만 아니라 Glass(LCD,PDP.OLED,GaAs,Sapphire,,) 등의 투명한 기판(사각형도 적용 가능) 등에도 적용이 가능하며, 표면의 이물을 최소 70nm Size 부터 Size를 구분하여 측정이 가능한 설비입니다.또한 사용자 분들의 입장에서 만들어진 것으로서 Data 저장 기능과 높은 정확도, 재현성을 갖추고도 매우 저렴한 가격에 공급해 드리고 있는 제품입니다.Applications : Wafer 이물 검사(Silicon, GaAs, Sapphire, Glass etc,,,) Glass 이물 검사(LCD, PDP, OLED etc,,,) 측히 SiC, GaN, LT 전용 Inspection장비도 있습니다. Ceramic Substrate,,, ・To..

NanoWorld 社는 스위스에 본사를 두고 있는 세계 최고의 SPM(Scaning Probe Microscopy) Application용의 Silicon Sensor(Probe/Tip) 을 제작하는 AFM Probe 응용 분야에서는 세계적인 Marketshare를 가지고 있는 회사로, 대부분의 Well-known AFM 장비의 Probe에는 호환 이 전혀 문제가 없으며 그외 Special한 경우에는 User의 요구 사항에 따라 주문 제작도 가능 하며, 특히 다양한 종류의 Sensor(Probe/Tip)을 보유 하고 있을 뿐만아니라 Alignment Chip 과 Calibration Standards 등을 보유, 다양한 User의 요구에 부흥하기 위해 최선의 노력과 연구를 하는 회사입니다. 1) Poin..

Scanning Near Field Optical Microscope Integrated Double Optical Vision System for accurate positioning and far field optical investigation Separate or simultaneous transmission and reflection measurements Large Operation wavelength range Allows the light source set-up as top down or inverted Independent high-performance photo detectors for multiple optical signals collection. Easily expandable ..